A、 A、只抑制杂波而对缺陷波无影响
B、 B、限制检波后的信号输出幅度,同时抑制杂波和缺陷波
C、 C、可以改善仪器的垂直线性
D、 D、可以提高仪器的动态范围
答案:B
A、 A、只抑制杂波而对缺陷波无影响
B、 B、限制检波后的信号输出幅度,同时抑制杂波和缺陷波
C、 C、可以改善仪器的垂直线性
D、 D、可以提高仪器的动态范围
答案:B
A. A、前后、左右
B. B、转角
C. C、环绕
D. D、以上都是
A. A、综合考虑其它因素情况下,尽量选择小K值探头
B. B、综合考虑其它因素情况下,尽量选择大K值探头
C. C、现场实际探伤条件下,适当增大探头前后移动距离
D. D、其它条件不变的情况下,小前沿探头比大前沿探头扫查区域大
A. A、19cm
B. B、20cm
C. C、21cm
D. D、22cm
A. A.射源的尺寸
B. B.工件厚度
C. C.胶片类型
D. D.几何不清晰度
A. A、大于试件芯板屈服荷载
B. B、小于试件芯板屈服荷载
C. C、大于螺栓最小拉力荷载
D. D、大于螺栓最小抗剪荷载
A. A、24.0HRC,25.2HRC
B. B、23.8HRC,25.2HRC
C. C、23.8HRC,25.1HRC,25.4HRC
D. D、24.0HRC,25.1HRC,25.4HRC,25.5HRC
A. A、裂纹
B. B、表面气孔
C. C、表面夹渣
D. D、未焊满