A、 A、被检工件厚度太大
B、 B、工件底面与检测面不平行
C、 C、耦合剂有较大声能损耗
D、 D、工件与试块材质、表面光洁度有差异
答案:D
A、 A、被检工件厚度太大
B、 B、工件底面与检测面不平行
C、 C、耦合剂有较大声能损耗
D、 D、工件与试块材质、表面光洁度有差异
答案:D
A. A、0.01cm2
B. B、0.25cm2
C. C、0.49cm2
D. D、整个主要平面
A. A、λ/4的奇数倍
B. B、λ/2整数倍
C. C、小于λ/4且很薄
D. D、λ/4整数倍
A. A、-300
B. B、-250
C. C、-200
D. D、-150
A. A、破裂
B. B、冷隔
C. C、分层
D. D、气孔。
A. A、L0+2b0
B. B、L0+1.5√S0
C. C、L0+2√S0
D. D、L0+2d0
A. A、比实际值偏大
B. B、比实际值偏小
C. C、需进行修正
D. D、应在报告中注明
A. A、10℃<·<35℃
B. B、15℃<·<35℃
C. C、10℃≤·≤35℃
D. D、15℃≤·≤35℃
A. A、1/4
B. B、1/3
C. C、1/2
D. D、以上都不是
A. A.宜采用较高频率,一般为5MHZ
B. B.宜采用大角度斜探头,其中β=70°探头较好
C. C.宜采用粘度大的耦合剂,如黄油
D. D.一般以横波斜探头从主管探测为主,支管探测为辅