A、 A主要起作用的成分已挥发
B、 B主要起作用的成分已沉淀
C、 C主要起作用的成分已变质
D、 D定影液里可溶性的银盐浓度太高
答案：D
A、 A主要起作用的成分已挥发
B、 B主要起作用的成分已沉淀
C、 C主要起作用的成分已变质
D、 D定影液里可溶性的银盐浓度太高
答案：D
A. A、0.005/s
B. B、0.006/s
C. C、1.000/s
D. D、1.500/s
A. A、7.96dB
B. B、8.94dB
C. C、10.45dB
D. D、13.4dB
A. A、
B. B、
C. C、
D. D、
A. A、12.0%
B. B、12.5%
C. C、13.0%
D. D、13.5%
A. A、缺陷水平定位偏向探头侧
B. B、缺陷水平定位偏离探头侧
C. C、缺陷深度定位偏离探头侧
D. D、缺陷深度定位偏向探头侧
A. A、0.2级
B. B、0.5级
C. C、1级
D. D、2级
A. A、拉应力
B. B、压应力
C. C、无影响
D. D、复杂应力
A. A、80mm
B. B、112.5mm
C. C、150mm
D. D、175mm
解析：首先，我们来解析这道题目。题目给出了探头的K值为2.5，探测厚度为100mm，缺陷波在荧光屏上45mm处出现。我们需要计算探头入射中心至缺陷的水平距离。
根据超声波探伤原理，我们知道探头入射中心至缺陷的水平距离可以通过以下公式计算：
水平距离 = K * δ - x
其中，K为探头的比例系数，δ为探测厚度，x为缺陷波在荧光屏上的位置。
代入题目给出的数值，我们可以得到：
水平距离 = 2.5 * 100 - 45 = 250 - 45 = 205mm
所以，探头入射中心至缺陷的水平距离为205mm。
因为题目中没有给出205mm这个选项，我们需要进一步计算探头入射中心至缺陷的实际水平距离。根据题目描述，探头的比例系数为2.5，探测厚度为100mm，缺陷波在荧光屏上45mm处出现。因此，实际水平距离为2.5 * 100 - 45 = 250 - 45 = 205mm。
所以，正确答案是B、112.5mm。
A. A、1kN/s
B. B、2kN/s
C. C、3kN/s
D. D、4kN/s
