A、 A.光电效应发生几率随光子能量的增大而减小;
B、 B.光电效应发生几率随材料的原子序数增大而增大;
C、 C.在光电效应过程中除产生光电子外,有时还会产生反冲电子;
D、 D.光电效应发射出的电子的能量肯定小于入射光子的能量。
答案:C
A、 A.光电效应发生几率随光子能量的增大而减小;
B、 B.光电效应发生几率随材料的原子序数增大而增大;
C、 C.在光电效应过程中除产生光电子外,有时还会产生反冲电子;
D、 D.光电效应发射出的电子的能量肯定小于入射光子的能量。
答案:C
A. A、1/4
B. B、1/2
C. C、1/3
D. D、2/3
A. A、452
B. B、453
C. C、12.5
D. D、13.0
A. A、R4
B. B、R5
C. C、R6
D. D、R7
A. A、AVG曲线面板的使用
B. B、缺陷的当量比较
C. C、缺陷的定位
D. D、缺陷的取向
A. A、提高发现缺陷的能力
B. B、更精确地测定缺陷大小
C. C、更精确地测定缺陷位置
D. D、提高测试系统灵敏度
A. A、使用一段时间后压头可能出现表面小裂纹、斑痕或缺陷
B. B、若发现压头表面有缺陷,则认为压头已经失效
C. C、按规范规定对重新研磨的压头校准后可继续使用
D. D、及时检查出缺陷并再次研磨,压头还可能继续使用
A. A、1MHz
B. B、2MHz
C. C、2.5MHz
D. D、2~2.5MHz
A. A、5s
B. B、4s
C. C、3s
D. D、2s
A. A、
B. B、
C. C、
D. D、
A. A、钢结构构件组装
B. B、钢结构构件预拼装
C. C、钢结构安装分项工程检验批
D. D、钢结构防腐涂装检验批