A、 A.声束细,每次扫查探测区域小,效率低
B、 B.每只探头仅适宜探测某一深度范围内的缺陷,通用性差
C、 C.声束细,产生散射的概率小
D、 D.由于声波的干涉作用和声透镜的球差,声束不能完全汇聚一点
答案:ABD
A、 A.声束细,每次扫查探测区域小,效率低
B、 B.每只探头仅适宜探测某一深度范围内的缺陷,通用性差
C、 C.声束细,产生散射的概率小
D、 D.由于声波的干涉作用和声透镜的球差,声束不能完全汇聚一点
答案:ABD
A. A、15mm、27.5mm、45mm
B. B、25mm、30mm、45mm
C. C、15mm、27.5mm、50mm
D. D、25mm、35mm、55mm
A. A、7.96dB
B. B、8.94dB
C. C、10.45dB
D. D、13.4dB
A. A、确定检测的位置应有代表性
B. B、检测前不用对仪器进行校准
C. C、不需要使用与被测构件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准
D. D、测试时,测点距构件边缘或内转角处的距离不宜小于20mm
A. A.光电效应
B. B.康普顿散射
C. C.汤姆逊散射
D. D.电子对产生
A. A、a,b
B. B、a,c
C. C、b,b
D. D、b,a
A. A、22.0%
B. B、22.5%
C. C、23.0%
D. D、23%
A. A、硫
B. B、磷
C. C、氧
D. D、氮
A. A、探头及平面缺陷型缺陷指性向越强,缺陷方向不利就不易探出
B. B、裂纹表面不光滑对回波强度影响越大
C. C、杂波太多
D. D、灵敏度越低