测定抗滑移的试验设备由（）组成。

A. A、检验焊缝缺陷

B. B、检验热影响区缺陷

C. C、确定缺陷位置

D. D、确定缺陷尺寸

A. A、100

B. B、105

C. C、110

D. D、115

A. A、2

B. B、3

C. C、4

D. D、5

A. A、直径10mm

B. B、半径10mm

C. C、半径2mm

D. D、直径2mm

A. A、按批量抽查1%

B. B、按批量抽查3%

C. C、不应少于3套

D. D、不应少于10套

A. A、测定斜探头入射点

B. B、制作斜探头DAC曲线

C. C、测定K值

D. D、测定斜探头分辩率

A. A.光电效应发生几率随光子能量的增大而减小；

B. B.光电效应发生几率随材料的原子序数增大而增大；

C. C.在光电效应过程中除产生光电子外，有时还会产生反冲电子；

D. D.光电效应发射出的电子的能量肯定小于入射光子的能量。

A. A、对于主要表面大于1cm2的试件，用于测量局部厚度的每个参比面面积取1cm2

B. B、对于主要表面小于1cm2的试件，用于测量局部厚度的每个参比面面积取1mm2

C. C、对于主要表面大于1m2的试件，用于测量局部厚度的每个参比面面积可取100cm2

D. D、对于主要表面大于10000cm2的试件，用于测量局部厚度的每个参比面面积可取100cm2

A. A.产生的X射线波长不变，强度不变；

B. B.产生的X射线波长不变，强度增加；

C. C.产生的X射线波长不变，强度减小；

D. D.产生的X射线波长增加，强度不变。

A. A、一定大

B. B、不一定大

C. C、一定不大

D. D、等于当量尺寸