A、 A、试件标记线位置在试件每侧最靠近试件中线的螺孔中心处对应的侧面
B、 B、试件标记线位置在试件每侧最靠近外端的螺孔中心处对应的侧面
C、 C、画标记线也可在装夹试件之后进行
D、 D、试件标记线位置在试件每侧摩擦面中线处对应的侧面
答案:AB
A、 A、试件标记线位置在试件每侧最靠近试件中线的螺孔中心处对应的侧面
B、 B、试件标记线位置在试件每侧最靠近外端的螺孔中心处对应的侧面
C、 C、画标记线也可在装夹试件之后进行
D、 D、试件标记线位置在试件每侧摩擦面中线处对应的侧面
答案:AB
A. A、K≥2.2,满足
B. B、K≥2.25,满足
C. C、K≥2.25,不满足
D. D、K≥2.275,不满足
A. A、比实际值偏大
B. B、比实际值偏小
C. C、需进行修正
D. D、应在报告中注明
A. A.产生光电子
B. B.产生可见光
C. C.产生γ射线
D. D.A、B和C
A. A、锰
B. B、铝合金
C. C、铜
D. D、铁
A. A、钢直尺
B. B、引伸计
C. C、标距打点机
D. D、游标卡尺
A. A.使曝光的金属银转变为溴化银;
B. B.使曝光的溴化银转变为金属银;
C. C.去除未曝光的溴化银;
D. D.去除已曝光的溴化银。
A. A、15
B. B、9
C. C、45
D. D、30
A. A.黑度下降
B. B.产生白色斑点
C. C.产生静电感光
D. D.潜象衰退
A. A、螺孔
B. B、高强度螺栓连接副
C. C、位移测量装置
D. D、钢板