A、 A、测量面是指做单次测量的主要平面区域
B、 B、参比面是指要求作规定次数单次测量的区域
C、 C、局部厚度是指在主要平面上均匀散布地进行规定次数的局部厚度测量得到的平均值
D、 D、平均厚度是指在参比面内进行的规定次数厚度测量的平均值
答案:AB
A、 A、测量面是指做单次测量的主要平面区域
B、 B、参比面是指要求作规定次数单次测量的区域
C、 C、局部厚度是指在主要平面上均匀散布地进行规定次数的局部厚度测量得到的平均值
D、 D、平均厚度是指在参比面内进行的规定次数厚度测量的平均值
答案:AB
A. A.光电效应发生几率随光子能量的增大而减小;
B. B.光电效应发生几率材料的原子序数增大而增大;
C. C.在光电效应过程中除产生光电子外,有时还会产生反冲电子;
D. D.光电效应发射出的电子的能量肯定小于入射光子的能量。
A. A、9.54dB
B. B、11dB
C. C、12dB
D. D、13.4dB
A. A、<5mm
B. B、<8mm
C. C、<10mm
D. D、<15mm
A. A、螺栓预拉力实测值
B. B、试件全部的螺栓数目
C. C、抗滑移系数设计规定值
D. D、盖板厚度
A. A、合格,合格
B. B、不合格,合格
C. C、合格,不合格
D. D、不合格,不合格
A. A、检测精度高,定位定量准确
B. B、频带宽,脉冲窄
C. C、可记录存储信号
D. D、有计算和自检功能
A. A、t/10
B. B、t/15
C. C、不大于3.0
D. D、不大于2.0
A. A.较高频探头
B. B.硬保护膜探头
C. C.较粘的耦合剂
D. D.软保护膜探头
A. A、105
B. B、107
C. C、110
D. D、120
A. A.标准试块
B. B.对比试块
C. C.模拟试块
D. D.镀铬试块
E. E.AⅡ试片