用CSK-ⅠA试块测定一斜探头的前沿长度L0和K值。用R100弧面测试，找到最高波，此时探头前沿至R100弧面端点距离M为88mm。用Ф50孔测试，找到最高波此时探头前沿至试块端面的距离L为76mm。试计算此探头的前沿长度l0和K值。

A. A、只抑制杂波而对缺陷波无影响

B. B、限制检波后的信号输出幅度，同时抑制杂波和缺陷波

C. C、可以改善仪器的垂直线性

D. D、可以提高仪器的动态范围

A. A、1

B. B、2

C. C、3

D. D、4

A. A、P5

B. B、P6

C. C、P12

D. D、P13

A. A、不应影响试件在跨度方向的变形和位移

B. B、应限制试件在跨度方向的变形和位移

C. C、不应影响试件在支座处的转动

D. D、应限制在支座处的转动

A. A、105

B. B、108

C. C、110

D. D、120

A. A、可变角的探头；

B. B、直探头；

C. C、斜探头；

D. D、收/发联合双晶探头。

A. A、在高度方向每隔1m取一截面为一个单元

B. B、测量结果的平均值精确到0.5mm

C. C、在所选择的面积中，至少测出6个点

D. D、在所选择的面积中，至少测出5个点

A. A、在距螺杆末端等于两个螺纹直径的截面上进行

B. B、对截面上距中心二分之一半径处任测四点

C. C、在所选测点中取后三点的最小值

D. D、在所选测点中取后三点的平均值

A. A、测试周边环境磁场干扰

B. B、构件曲率半径是否符合要求

C. C、表面打磨平整

D. D、校准片的材质是否满足