A、 A、217MPa
B、 B、264MPa
C、 C、310MPa
D、 D、434MPa
答案:C
A、 A、217MPa
B、 B、264MPa
C、 C、310MPa
D、 D、434MPa
答案:C
A. A、较低频率探头
B. B、较粘的耦合剂
C. C、软保护膜探头
D. D、较高频率探头
A. A、10℃~35℃
B. B、15℃~35℃
C. C、15℃~30℃
D. D、5℃~35℃
A. A、采用足够厚的相同金属将校准标准片垫起
B. B、保证已经采用具有与试样相同厚度和磁性能的校准标准片进行仪器校准
C. C、采用足够厚的相同金属将试样的基体金属垫起
D. D、对结果不影响
A. A、缺陷垂直定位不变
B. B、缺陷垂直定位偏离
C. C、缺陷水平定位不变
D. D、缺陷水平定位偏离
A. A、屈服点延伸率
B. B、断后伸长率
C. C、断裂塑性延伸率
D. D、最大力塑性延伸率
A. A、观察手势
B. B、观察移动区宽度
C. C、观察仪器荧光屏
D. D、不用观察
A. A、越大
B. B、越低
C. C、不变
D. D、无规律
A. A、3
B. B、4
C. C、5
D. D、以上都不对
A. A、水平线性、垂直线性、动态范围
B. B、频带宽度、探测深度、重复频率
C. C、灵敏度余量、盲区、分辨力
D. D、入射点、近场长度、扩散角
A. A.产生光电子
B. B.产生俄歇电子
C. C.产生反冲电子
D. D.产生正负电子对