答案：A
答案：A
A. A、形状
B. B、大小
C. C、密集程度
D. D、类型
A. A、HR
B. B、HRB
C. C、BW
D. D、B
A. A、较低频率探头
B. B、较粘的耦合剂
C. C、软保护膜探头
D. D、较高频率探头
A. A、该方法适用于在表面不平整的试样上测量
B. B、非磁性基体上的镍覆盖层厚度测量优先采用该方法
C. C、该方法适用于磁性基体金属上釉瓷厚度测量
D. D、该方法适用于磁性基体金属上搪瓷层厚度测量
A. A、仪器探头必须与试样表面紧密接触
B. B、施加于测头电极上的压力必须适当、恒定，使软的覆盖层轻微变形
C. C、软的覆盖层可用金属箔覆盖住再测量，然后从测量值中减去金属箔的厚度
D. D、当磁性测厚仪的工作频率在2000~5000Hz之间，高导电性厚覆盖层内产生的涡流可能影响读数
A. A、22.0%
B. B、22.5%
C. C、23.0%
D. D、23%
A. A、探头的工作频率为2MHz
B. B、探头的K值为2
C. C、探头的种类为2
D. D、以上都不是
A. A、金刚石圆锥压头有两种规格
B. B、碳化钨合金球形压头有一种规格
C. C、碳化钨合金球形压头为标准型洛氏硬度压头
D. D、钢球压头为标准型洛氏硬度压头
A. A.穿透能力不同
B. B.强度不同
C. C.产生机理不同
D. D.A、B和C
