46.显示试件横截面表示超声波探伤结果的方法称为( )。

A. 　大小孔

B. 　双环孔

C. 　导线孔

D. 　拉长孔

A. 　卷边孔

B. 　尖刀孔

C. 　气割孔

D. 　透声孔

A. 　超声波反射能量的大小

B. 　探头的移动距离

C. 　超声波传播的时间或距离

D. 　反射波的垂直高度

A. 　返回到探头超声波能量的大小

B. 　探头的移动距离

C. 　超声脉冲反射后经过的时间

D. 　被检材料的厚度

A. 　产生水平基线

B. 　触发脉冲发生器工作

C. 　控制脉冲发射次数

D. 　抑制杂波

A. 　双晶片垂直法探伤

B. 　斜射法探伤

C. 　纵波垂直法探伤

D. 　反射法探伤

A. 　背衬材料

B. 　波形转换器

C. 　压电晶片或换能器

D. 　保护膜

A. 　晶片的厚度

B. 　晶片材料的声速

C. 　晶片材料的声阻抗

D. 　晶片材料的密度

A. 　有利于发现缺陷

B. 　不利于对缺陷定位

C. 　可提高探伤灵敏度

D. 　有利于对缺陷定位

A. 　1MHz探头

B. 　5MHz探头

C. 　15MHz探头

D. 　25MHz探