A、 在CSK-1A试块探测厚度25mm的底面
B、 在CSK-1A试块探测厚度100mm的底面
C、 在CSK-1A试块探测厚度91mm的底面
D、 在CSK-1A试块探测半径50mm的圆弧面
答案:A
A、 在CSK-1A试块探测厚度25mm的底面
B、 在CSK-1A试块探测厚度100mm的底面
C、 在CSK-1A试块探测厚度91mm的底面
D、 在CSK-1A试块探测半径50mm的圆弧面
答案:A
A. CSK-1A试块85、91台阶底面
B. CSK-1A试块40、44圆弧面
C. WGT-1试块
D. WGT-2试块
A. 平行
B. 垂直
C. 呈椭圆轨迹
D. 沿工件表面传播
A. 超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直
B. 超声波束与缺陷最大表面平行
C. 底面回波次数尽可能地多
D. 超声波束与试件底面垂直
A. 改变频率
B. 调整波束入射角
C. 打磨探测面
D. 提高探伤灵敏度
A. 3和6上
B. 2.5和5上
C. 2和4上
D. 5和10上
A. 35mm
B. 70mm
C. 47.5mm
D. 65mm
A. 双探头检测法
B. 标准压电元件法
C. 波形转换法
D. 试块对比法
A. 称为当量
B. 与实际大小相等
C. 是缺陷的最大长度
D. 是缺陷的最大宽度
A. 与前者一样
B. 比前者低
C. 比前者高
D. 比前者高而且显示位置提前
A. 呈75°角且平滑的缺陷
B. 呈75°角且粗糙的缺陷
C. 呈90°角且平滑的缺陷
D. 相垂直且粗糙的缺陷