A、 测量精密度
B、 测量准确度
C、 测量重复性
D、 测量复现性
答案:B
A、 测量精密度
B、 测量准确度
C、 测量重复性
D、 测量复现性
答案:B
A. A
B. B
C. C
D. D
A. 开线扫描
B. 闭线扫描
C. 周边扫描
D. 自由扫描
A. 0.45Mpa
B. 0.35Mpa
C. 0.40Mpa
D. 没有严格的要求
A. I=-0.7071,J=0,K=-0.7071
B. I=0.7071,J=0,K=-0.7071
C. I=0.7071,J=0,K=0.7071
D. I=-0.7071,J=0,K=0.7071
A. 是指GlobalDimensioningandTolerancing全球尺寸和公差的规定
B. GPS是指GeometricalProductSpecifications产品几何公差规范
C. 几何公差标准出现的目的是为了帮助工用ISO1101
A. CTRL+ALT+P:打开测头编辑对话框;
B. CTRL+ALT+M:打开移动点对话框
C. CTRL+ALT+N:新建程序
D. CTRL+ALT+X:删除当前命令
A. 曲面矢量(0,0,1),角度矢量(1,0,0),角度范围1;-15~+15,角度范围2;-60~+60
B. 曲面矢量(1,0,0),角度矢量(0,1,0),角度范围1;300~420,角度范围2;75~105
C. 曲面矢量(0,1,0),角度矢量(0,0,1),角度范围1;-60~+60,角度范围2;-15~+15
A. 间隙配合
B. 过盈配合
C. 过渡配合
A. 以加工状态装夹时,生产控制测量时应该使用生产夹具
B. 夹具必须能够夹紧零件以保证测量过程中不会发生移动
C. 使用磁体不会对测量结果造成影响,因为探针没有磁性
A. 零件的真值永远无法得到,只能无限与之接近
B. 数显卡尺的准确度是0.02mm
C. 产品控制理论关注的是零件是否在指定的范围内
D. 过程控制理论关注的是过程变差是否稳定并可接受