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[T]A-B-M-003423:电流表内部结构是一个毫安表()。

A、与一个高电阻的并联

B、与一个高电阻的串联

C、与一个小电阻的并联

D、与一个小电阻的串联

答案：C

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[T]B-B-D-006413:电子天平从一地移至另一地使用时或使用一段时间(30天左右)后应对天平重新校正。

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[T]B-A-B-003425:应用总体特性平均值双侧限的采样验收方案判定为合格的条件是:总体物料的特性平均值与μ0之差的绝对值()d。

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[T]B-B-C-014425:下列关于配位滴定突跃范围大小的说法错误的是()。

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[T]B-B-B-027424:氧化还原滴定曲线电位突跃的大小与()。

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[T]B-E-A-001422:电位分析法根据其原理可分为()。

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[T]B-B-B-001423:下列关于系统误差论述中错误的是()。

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[T]A-B-M-001421:图示节点中，I1=1A，I2=I3=3A，则I4等于()。

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[T]B-G-D-006412:摆锤冲击试验机更换摆锤时必须检查摆锤和试样夹持座是否相符。

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[T]A-B-H-014412:化合物CH3OCH2CH2CH3的系统名称是甲正丙醚。

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[T]A-B-M-003423:电流表内部结构是一个毫安表()。

A、与一个高电阻的并联

B、与一个高电阻的串联

C、与一个小电阻的并联

D、与一个小电阻的串联

答案：C

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A. >

B. ≥

C. <

D. ≤

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B. 10-15

C. 15-20

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C. 氧化剂电对标准电位有关

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[T]B-E-A-001422:电位分析法根据其原理可分为()。

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B. 直接电位法和电位滴定法

C. 电位滴定法和间接电位法

D. 直接电位法、间接电位法和电位滴定法

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[T]B-B-B-001423:下列关于系统误差论述中错误的是()。

A. 方法误差属于系统误差

B. 系统误差包括操作误差

C. 系统误差又称可测误差

D. 系统误差呈正态分布

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[T]A-B-M-001421:图示节点中，I1=1A，I2=I3=3A，则I4等于()。

A. 1A

B. 0A

C. -1A

D. 3A

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[T]B-G-D-006412:摆锤冲击试验机更换摆锤时必须检查摆锤和试样夹持座是否相符。

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[T]A-B-H-014412:化合物CH3OCH2CH2CH3的系统名称是甲正丙醚。

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