答案：A
A. 作为探测时的校准基准,并为评价工件中缺陷的严重程度提供依据
B. 为探伤人员提供一种确定的缺陷实际尺寸的工具
C. 为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证
D. 提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体
A. 带10倍扩程器的光度计
B. 带琥珀场滤波器的光度计
C. 调节到3 425×10-10m的光度计
D. 额定值为M2的光度计
A. 磁性材料的较强
B. 非磁性材料的较强
C. 随材料的磁导率而变化
D. 磁场强度相同
A. 提高射线的半衰期
B. 散射比大
C. 穿透能力强
D. 其它三项都不正确
A. 2.5 min
B. 4.4 min
C. 6 min
D. 7.2min
A. 耦合层厚度
B. 超声波在耦合介质中的波长
C. 耦合介质的声阻抗
D. 其它三项都正确
A. 光电效应
B. 汤姆逊效应
C. 康普顿效应
D. 电子对效应
