检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。

A. TOF4

B. TUF4

C. TFF4

D. T1F4

A. 光斑、过烧和未焊透

B. 夹砂、气孔、缩孔、疏松、未焊透和裂纹

C. 灰斑、烧伤和裂纹

D. 灰斑、过烧、和裂纹

A. 散射

B. 吸收

C. 散射和吸收

D. 扩散

A. 直射

B. 扫查

C. 反射

D. 折射

A. 施加电压脉冲的长度

B. 仪器脉冲放大器的放大特性

C. 压电晶体的厚度

D. 仪器同步放大器的放大特性

A. h＝S·cos2

B. h＝S·sin2

C. h＝K×L

D. h＝S/cos2