A、 随着声程的增加而下降
B、 随着声程的增加而增加
C、 随着声程的减少而下降
D、 其它三项都不正确
答案:A
A、 随着声程的增加而下降
B、 随着声程的增加而增加
C、 随着声程的减少而下降
D、 其它三项都不正确
答案:A
A. 作为探测时的校准基准,并为评价工件中缺陷的严重程度提供依据
B. 为探伤人员提供一种确定的缺陷实际尺寸的工具
C. 为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证
D. 提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体
A. 试片厚度为15/100 mm
B. 试片上的槽深为15/100 mm
C. 试片厚度100 μm,槽深15 μm
D. 槽深100 μm,槽宽15 μ
A. 磁化的磁场强度及材料的导磁率
B. 缺陷埋藏的深度、方向、形状和尺寸
C. 缺陷内部的介质
D. 其它三项都正确
A. 管电压
B. 管电流
C. 物质的原子序数
D. 物质的密度
A. 横向和纵向两种振动的合成
B. 横向振动
C. 纵向振动
D. 其它三项都不正确