A、 作为探测时的校准基准,并为评价工件中缺陷的严重程度提供依据
B、 为探伤人员提供一种确定的缺陷实际尺寸的工具
C、 为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证
D、 提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体
答案：A
A、 作为探测时的校准基准,并为评价工件中缺陷的严重程度提供依据
B、 为探伤人员提供一种确定的缺陷实际尺寸的工具
C、 为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证
D、 提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体
答案：A
A. 200 kV峰值
B. 200 kV平均值
C. 200 kV有效值
D. 200 kV均方根值
A. 固有不清晰度
B. 几何不清晰度
C. 平底灰雾度
D. 化学灰雾度
A. 杂质塞在缺陷内会阻止渗透液渗入
B. 杂质与渗透液作用会冲淡着色或荧光强度
C. 杂质会降低渗透液的毛细作用
D. 其它三项都正确
A. 正数表示的单位
B. 负数表示的单位
C. 对数表示的单位
D. 常数表示的单位
A. 具有宽度要求和相当长度的表面裂纹
B. 具有规定深度的表面裂纹
C. 裂纹内部不存在粘污物
D. 其它三项都是
A. 磁强计
B. 标准试块
C. 对比试块
D. 其它三项都正确
A. 距离防护
B. 时间防护
C. 距离防护
D. 其它三项都不正确
