A、 双晶片垂直法探伤
B、 斜射法探伤
C、 纵波垂直法探伤
D、 反射法探伤
答案:B
A、 双晶片垂直法探伤
B、 斜射法探伤
C、 纵波垂直法探伤
D、 反射法探伤
答案:B
A. 确定缺陷深度
B. 评定表面缺陷
C. 作为评定长条形缺陷的标准
D. 作评定点状缺陷的标准
A. 空气
B. 水
C. 铝
D. 不锈钢
A. 电场
B. 磁场
C. 声场
D. 超声场
A. 15221
B. 17229
C. 29520
D. 16224
A. 衰减器
B. 接收放大器
C. 同步发生器
D. 电源
A. L
B. S
C. T
D. R
A. 可能是疏松
B. 可能是大晶粒
C. 可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良
D. 上述三种都可能