212.工业发达国家的无损检测技术逐步从用无损评价来代替无损探伤和无损检测。定量自动无损评价的符号为( )。

A. 　晶片的厚度

B. 　晶片材料的声速

C. 　晶片材料的声阻抗

D. 　晶片材料的密度

A. 　第一孔

B. 　第二孔

C. 　第三孔

D. 　任意孔

A. 　10kHz

B. 　100kHz

C. 　100MHz

D. 　0.1kHz

A. 　杨氏模量

B. 　弹性模量

C. 　杨氏模量或弹性模量

D. 　折射率

A. 　发射器

B. 　辐射器

C. 　分离器

D. 　换能器

A. 　20620

B. 　20623

C. 　20622

D. 　22620

A. 　连续波显示

B. 　A扫描显示

C. 　B扫描显示

D. 　C扫描显示

A. 　反射定律

B. 　衍射定律

C. 　折射定律

D. 　莱姆定律

A. 　表面波

B. 　横波

C. 　纵波

D. 　板波