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超声波探伤（判断题）
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超声波探伤（判断题）
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判断题
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( )53.扫查焊缝轨底角部位时,为确保耦合良好应尽量采用大尺寸的探头

答案：B

超声波探伤（判断题）
( )90.一定大小的晶片,其远场中轴线上的声压与晶片面积成正比,
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/00039046-ff7e-40c0-c003-ea175b68ff00.html
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( )234.声程大于3N的同一距离上孔径相同的反射体(平底孔、横通孔、球孔)以横通孔反射声压最高。
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/00039046-ff80-2b74-c003-ea175b68ff00.html
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( )311.双晶探头的盲区比单晶探头的盲区大
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/00039046-ff81-2a3f-c003-ea175b68ff00.html
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( )166.在检验大锻件时通常使用:车由向和径向两种检验。
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/00039046-ff7f-4319-c003-ea175b68ff00.html
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( )163.灵敏度余量表示仪器及探头的组合性能。
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/00039046-ff7f-3954-c003-ea175b68ff00.html
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( )201.不同压电晶体的频率常数不一样,因此用不同压电晶体不能作成频率相同的晶片。
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/00039046-ff7f-bd52-c003-ea175b68ff00.html
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( )145.在检验大锻件时,通常使用:轴向和径向两种检验。
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/00039046-ff7e-fbd0-c003-ea175b68ff00.html
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( )125.数字探伤仪探伤时,不同声程的缺陷回波有时会显示在同一位置上。
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/00039046-ff7e-9fb1-c003-ea175b68ff00.html
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( )304.缺陷的反射波高与反射声压成正比
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/00039046-ff81-136f-c003-ea175b68ff00.html
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( )197.B型显示探伤仪不能直观显示出缺陷深度。
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/00039046-ff7f-af37-c003-ea175b68ff00.html
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( )53.扫查焊缝轨底角部位时,为确保耦合良好应尽量采用大尺寸的探头

答案：B

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