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超声波探伤（判断题）

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超声波探伤（判断题）

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判断题

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( )226.由晶片辐射的超声场中截面的声压分布特点为:各截面中心声压最高,偏离中心轴线的声压逐渐降低。

答案：B

超声波探伤（判断题）

( )180.超声纵波斜入射到端角时,端角反射率总是很高的。

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( )277.要在仪器屏幕上显示零件和缺陷的俯视图就应采用B扫描显示

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( )200.不同压电晶体材料中声速不一样,因此不同压电材料的频率常数也不相同。

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( )81.A型探伤仪屏幕上显示的回波幅度与回波声压成正比。

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( )242.检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头

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( )215.使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时,探头应作正反两个方向扫查。

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( )214.缺陷的当量大小与实际缺陷面积差不多。

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( )216.靠近探头的长条形缺陷不一定都能探测到,因为仪器的阻塞效应。

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( )302.声波从一种介质进入另一介质后,其传播方向与两介质的声速都有关。

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( )246.超声探头的近场长度与晶片面积成正比

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超声波探伤（判断题）

( )226.由晶片辐射的超声场中截面的声压分布特点为:各截面中心声压最高,偏离中心轴线的声压逐渐降低。

答案：B

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