A、 提高探伤灵敏度
B、 降低杂波水平
C、 改变显示方式
答案:B
A、 提高探伤灵敏度
B、 降低杂波水平
C、 改变显示方式
答案:B
A. 杂乱
B. 平行于晶粒流向
C. 垂直线于晶粒流向
D. 与晶粒流向成45°角
A. 材料结构非常致密
B. 晶粒结构粗大
C. 流线均匀
D. 缺陷任意取向
A. 80%
B. 50%
C. A0%
D. 25%
A. 发现较小的缺陷
B. 区分开和邻的缺陷
C. 改善声束指向性
D. 以尘全部
A. 轴向检验
B. 径向检验
C. a与b两种检验都用
D. 低频和高频检验。
A. 发射器
B. 辐射器
C. 分离器
D. 换能器
A. 水
B. 机油
C. 水玻璃
D. 甘油
A. 纵波折射角
B. 横波折射角
C. 入射角
D. 都不对
A. 多次底面反射
B. 多次界面反射
C. 波型转换
D. 入射声能的损失
A. 声束扩散
B. 材质衰减
C. 仪器阻塞效应
D. 声束折射