超声检测时，探头在发射和接收超声波过程中，压电晶片所作的振动即为阻尼振动和强迫振动。

A. ①Cl＞Ct＞CR

B. ②Cl＜Ct＜CR

C. ③Cl=Ct=CR

D. ④Ct＜Cl＜CR

A. ①缺陷形状

B. ②缺陷取向

C. ③缺陷的表面粗糙度

D. ④缺陷的指向性

A. 3;

B. 6;

C. 9;

D. 12;

A. ⑴集中衰减

B. ⑵反射衰减

C. ⑶散射衰减

D. ⑷延伸衰减

A. ABC

B. BBA

C. BBB

D. CAB

A. 正确

B. 错误

A. ① A扫描显示

B. ②B扫描显示

C. ③C扫描显示

D. ④A和B两种都存在

A. 正确

B. 错误

A. ①大

B. ②小

C. ③强

D. ④弱

A. ①≤1%

B. ②≤2%

C. ③≤5%

D. ④≤6%