A、 耦合剂特性
B、 耦合层厚度
C、 温度及界面反射率
D、 上述都有
答案：D
解析：在超声波探伤中，耦合情况影响反射波高度的因素有耦合剂特性、耦合层厚度、温度及界面反射率，因此选项D（上述都有）是正确的。耦合剂的特性和厚度会影响超声波在探头和被测材料之间的传播和耦合情况，而温度和界面反射率也会影响超声波在被测材料内部传播和反射的方式，从而影响反射波的高度。
A、 耦合剂特性
B、 耦合层厚度
C、 温度及界面反射率
D、 上述都有
答案：D
解析：在超声波探伤中，耦合情况影响反射波高度的因素有耦合剂特性、耦合层厚度、温度及界面反射率，因此选项D（上述都有）是正确的。耦合剂的特性和厚度会影响超声波在探头和被测材料之间的传播和耦合情况，而温度和界面反射率也会影响超声波在被测材料内部传播和反射的方式，从而影响反射波的高度。
A. 正确
B. 错误
解析：斜探头的斜楔应采用纵波声速比试件横波声速大的材料制成。( ) A.正确 B.错误 答案: B 解析：这道题目是关于斜探头的材料选择。斜探头的斜楔设计是为了使超声波能以特定角度进入被测物体。一般情况下，斜楔的材料应该选择纵波声速与试件中横波声速接近的材料，这样能够更好地传播超声波。因此，斜探头的斜楔应该采用纵波声速比试件横波声速小的材料，而不是大的材料。因此，答案是错误的（B）。
A. 平面型缺陷
B. 球型缺陷
C. 密集型缺陷
D. 点状缺陷
解析：受探测方向限制的缺陷类型是( )。 答案解析：受探测方向限制的缺陷类型是平面型缺陷 (答案A)。平面型缺陷是指其在探测方向上的长度大于其在垂直于探测方向的宽度或厚度，这样的缺陷在一定角度的超声波探测中可能无法完全检测到。
A. 正确
B. 错误
解析：焊缝探伤所用的阵列探头分段扫查间隔应不超过15mm。( ) 答案:A 解析：此题目中的答案是正确的。焊缝探伤时，阵列探头通常由许多小元件组成，通过分段扫查来探测焊缝区域。为了保证探测的全面性，阵列探头分段扫查的间隔应该控制在不超过15mm，这样可以确保焊缝中的缺陷不会被遗漏。
A. 自激振荡
B. 它激振荡
C. 自激振荡或它激振荡
D. 共振
解析：题目解析 放大电路在没有外部输入信号的情况下仍然可能产生输出，这种现象称为自激振荡。自激振荡是指放大电路内部反馈作用导致的振荡现象，它不需要外部信号就能产生输出。选项 A 正确，因为自激振荡是描述这种状态的合适术语。
A. 内外表面
B. 只在内表面
C. 只在外表面
D. 从内表面到壁厚的1/2深度
解析：题目解析 管子的槽型参考标准应把槽加工在内外表面。在管道加工中，如果需要在管子的内部或外部表面加工槽型，参考标准应该涵盖两者，以确保加工的准确性和一致性。这样可以避免内外表面之间的不匹配或不协调，确保管道的质量和性能。
A. 光
B. 耦合剂
C. 声束覆盖
D. 油污
解析：题目解析 这道题目涉及探头进行扫查时的需检测区。为了避免漏检，探头进行扫查时，一定要保证试件的整个需检测区有足够的声束覆盖。声束覆盖是指超声波在被检测物体内的传播范围，确保声束能够涵盖整个被检测区域，避免漏探缺陷。因此，选项C即声束覆盖是正确答案。
A. 厚度25mm底面
B. 厚度50mm底面
C. 厚度100mm底面
D. 任一底面
解析：探伤仪动态范围测量时，连接探头并在试块上探测反射波作为参照波。根据题目的要求，参照波可以从任意底面（上表面或底面）反射回来，所以答案选项为D。
A. 100mm
B. 200mm
C. 300mm
D. 400mm
解析：《钢轨探伤管理规则》规定，焊缝两侧各( )范围内不得进行钻孔或安装其他装置。 答案: D. 400mm 解析: 这道题目考察的是焊缝两侧不得进行钻孔或安装其他装置的规定范围。正确答案是D，即400mm。这意味着在焊缝两侧的范围内，禁止进行钻孔或安装其他装置，以确保钢轨的安全性和稳定性。
A. 正确
B. 错误
解析：横波探伤时，为保证第二介质中只有横波存在，那么介质Ⅰ的纵波声速一定小于介质Ⅱ的横波声速。( ) A.正确 B.错误 答案: A 解析：这道题目是关于横波探伤的条件。在横波探伤中，要求第二介质中只有横波存在，这样才能有效地探测横波信号。为了实现这个条件，要求介质Ⅰ的纵波声速要小于介质Ⅱ的横波声速。因此，答案是正确的（A）。
A. 正确
B. 错误
解析：题目解析 答案：A 解析：在使用欧姆档测量电路中的电阻时，一定要先把被测电路断电。这是因为在直流电路中，欧姆表（电阻计）是通过通过测量电阻两端的电压和电流来计算电阻值的。如果电路处于通电状态，测量电阻时会导致电流通过测量电阻，从而产生不准确的测量结果。因此，为了保证测量的准确性，必须在测量之前将被测电路断电。
