A、 12dB
B、 16dB
C、 18dB
D、 20dB
答案:B
解析:JJG(铁道)130-2003计量检定规程规定,0°探头探测GTS-60试块底面,当波高达到80%时的检出能力不小于24dB;信噪比不小于( )。 答案解析:选项B(16dB)。根据JJG(铁道)130-2003的规定,当波高达到80%时,信噪比应不小于16dB。信噪比是一种衡量信号强度与噪音强度之间关系的指标,较高的信噪比意味着更清晰准确地检测缺陷信号。
A、 12dB
B、 16dB
C、 18dB
D、 20dB
答案:B
解析:JJG(铁道)130-2003计量检定规程规定,0°探头探测GTS-60试块底面,当波高达到80%时的检出能力不小于24dB;信噪比不小于( )。 答案解析:选项B(16dB)。根据JJG(铁道)130-2003的规定,当波高达到80%时,信噪比应不小于16dB。信噪比是一种衡量信号强度与噪音强度之间关系的指标,较高的信噪比意味着更清晰准确地检测缺陷信号。
A. 与前者一样
B. 比前者低
C. 比前者高
D. 比前者高且位置在前
解析:题目解析 选项C:比前者高。 解析:在相同深度上,一个表面光滑的缺陷与一个表面粗糙的缺陷在相同探伤灵敏度下垂直入射时,由于表面光滑的缺陷较为规则,其回波高度会比表面粗糙的缺陷高。因此,选项C是正确的。
A. 正确
B. 错误
解析:涡流探伤主要是通过观察涡状流动的电流变化量,来判断缺陷的探伤方法。( ) A.正确 B.错误 答案:A 题目解析:涡流探伤确实是通过观察涡状电流在材料表面产生的变化来判断缺陷的探伤方法。当涡流流经有缺陷的区域时,电流的路径和强度会发生变化,从而可以检测出缺陷的存在。所以答案是正确(A)。
A. 掩盖缺陷的磁痕
B. 使衬度变坏
C. 不得不增大磁化电流
D. 掩盖缺陷磁痕,使衬度变坏
解析:如果磁悬液的浓度过大,会引起( )。 答案: D. 掩盖缺陷磁痕,使衬度变坏 解析:当磁悬液的浓度过大时,磁粉颗粒之间容易发生团聚,导致磁粉在表面分布不均匀,形成一些额外的磁痕,这些磁痕可能会掩盖探测到的缺陷磁痕,使得缺陷的显示变得不清晰,从而使衬底(基材)的检测质量变坏。因此,磁悬液的浓度要合理控制,以确保准确有效地检测缺陷。
A. 散射衰减
B. 吸收衰减
C. 扩散衰减
D. 上述都对
解析:题目解析 由于介质的黏滞性阻碍质点的振动,造成质点之间的内摩擦,从而使一部分声能转换成热能,导致声能的损耗,这种现象称为吸收衰减。因此,答案为B,即吸收衰减。吸收衰减是声波在传播过程中能量损失的一种情况,这可能会影响声波的强度和传播距离。
A. 正确
B. 错误
解析:题目解析 题目:以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。 ( ) A.正确 B.错误 答案:A 解析:这道题目表述了以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,并询问在相同探测深度和表面状态时,缺陷的回波高度是否相同。正确答案是A,即正确。在相同探测深度和表面状态下,如果回波高度相同,说明两者的缺陷大小相同,因为回波高度通常与缺陷的尺寸有关。
A. 4
B. 8
C. 2
D. 6
解析:题目解析
《钢轨探伤管理规则》规定,钢轨探伤灵敏度为70°探头通道()平底孔当量。正确答案为A。在给定的选项中,只有A选项的图形与括号中的图形相同,因此是正确答案。
A. 正确
B. 错误
解析:因为0°探头探测轨腰水平裂纹时有回波显示,所以0°探头采用的探伤方法是脉冲反射法和穿透法。( ) A.正确 B.错误 答案:A 解析:这个题目是判断0°探头探测轨腰水平裂纹时采用的探伤方法是否为脉冲反射法和穿透法。正确答案是A,即正确。因为0°探头的发射和接收方向相同,所以可以用于探测表面和近表面的缺陷,包括轨腰水平裂纹。所以0°探头采用的探伤方法是脉冲反射法和穿透法。
A. 投影面
B. 垂直深度
C. 投影面和垂直深度
D. 任意参数
解析:C型显示仪器以亮点或暗点显示接收信号,荧光屏面代表被检验工件的投影面。答案选项 A 正确。C型显示仪器通常用于探伤,它以亮暗点的形式显示信号强度,其中荧光屏面显示的亮暗点位置对应于被检验工件的投影面,这样操作者可以根据信号在荧光屏上的位置判断缺陷位置及尺寸。
A. 顶角反射波
B. 螺孔反射波
C. 颚部反射波
D. 倒打螺孔波
解析:题目解析 答案:C 解析:当钢轨探伤仪37°探头探测50kg/m钢轨第一螺孔时,探头入射点移至距轨端35mm左右时,在荧光屏刻度2.5格左右会显示轨端颚部反射波。这是因为在距离轨端较近的位置,探头接收到的是颚部反射波,即从螺孔底部反射的超声波信号。
A. 仅仅是表面缺陷
B. 不仅是表面缺陷
C. 表面及以下的缺陷
D. 内部很深的缺陷
解析:磁粉法探伤三相全波整流电可用于检测表面及以下的缺陷,应选择C. 表面及以下的缺陷。三相全波整流电是一种强磁化方式,可以探测出表面及以下的缺陷,而不仅仅是表面缺陷或内部很深的缺陷。