A、正确
B、错误
答案：A
解析：使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。( ) 答案:A 题目解析: 这道题目的说法是正确的。K型扫查阵列式探头可以同时发送多个超声波波束，因此可以增加对被测物体的探查密度，特别适用于焊缝等需要高密度扫描的情况。
A、正确
B、错误
答案：A
解析：使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。( ) 答案:A 题目解析: 这道题目的说法是正确的。K型扫查阵列式探头可以同时发送多个超声波波束，因此可以增加对被测物体的探查密度，特别适用于焊缝等需要高密度扫描的情况。
A. 正确
B. 错误
解析：使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。( ) 答案:A 题目解析: 这道题目的说法是正确的。K型扫查阵列式探头可以同时发送多个超声波波束，因此可以增加对被测物体的探查密度，特别适用于焊缝等需要高密度扫描的情况。
A. 正确
B. 错误
解析：题目解析 从各个方向都能探测到的缺陷是平面状缺陷。( ) A.正确 B.错误 答案:B 解析：这道题表述的是"从各个方向都能探测到的缺陷"，这类缺陷通常是体型缺陷（如裂纹、脱落等），而平面状缺陷通常只能从特定方向探测到。因此，答案为错误。
A. 正确
B. 错误
解析：钢轨探伤仪37°探头探测不同轨型时，轨底（垂直轨腰部分）横向裂纹回波都显示在同一刻度上。答案:B 解析：这个答案是错误的。钢轨探伤仪37°探头探测不同轨型时，由于轨底形状的不同，横向裂纹回波在刻度上的显示位置会有所不同，因此不会都显示在同一刻度上。
A. 在CSK-1A试块探测厚度25mm的底面
B. 在CSK-1A试块探测厚度100mm的底面
C. 在CSK-1A试块探测厚度91mm的底面
D. 在CSK-1A试块探测半径50mm的圆弧面
解析：通用探伤仪的水平线性误差测定应在CSK-1A试块探测厚度25mm的底面。选择答案A是因为在该试块的底面探测，可以更准确地测定通用探伤仪的水平线性误差。
A. 正确
B. 错误
解析：超声波通过一定厚度的薄层介质时，如两边介质的声阻抗相等，则薄层厚度为1/2波长及其整数倍时，将有最大的声压通过率。( ) 答案: A 解析：这题涉及超声波在薄层介质中的传播。正确答案是A，当薄层厚度为1/2波长及其整数倍时，将有最大的声压通过率。这是因为当薄层厚度满足这个条件时，超声波在介质中的反射和干涉现象会相互增强，使得声压通过率最大化。
A. 发射电路
B. 扫描电路
C. 显示电路
D. 增辉电路
解析：题目解析 答案：B 解析：A型显示超声波探伤仪中，产生扫描线的电路是扫描电路。它用来控制超声波的探测和扫描过程，使得荧光屏上能够显示被检测物体的超声波图像。因此，正确答案是B选项。
A. 探伤仪性能指标
B. 探头性能指标
C. 探伤仪和探头组合性能指标
D. 探伤仪电流、电压的要求标准
解析：题目解析 入射点和折射角是( )。 答案:B 解析：入射点和折射角是评价探头性能的关键参数之一。入射点是指超声波探头发射超声波的位置，折射角是指超声波从探头发射后在被检测材料中传播时的角度。这些参数直接影响到超声波的入射和传播情况，从而影响检测效果。因此，答案选择B，即探头性能指标。
A. 探头效率
B. 声耦合问题
C. 检验装置的脉冲重复频率
D. 阴极射线管荧光屏的余辉时间
解析：题目解析 自动探伤中可能的最大扫查速度主要决定于检验装置的脉冲重复频率。在自动探伤过程中，探头需要发射脉冲来探测材料内部的缺陷。脉冲重复频率决定了探头发射脉冲的速度，从而影响了扫描的速度。如果脉冲重复频率过低，探头发射脉冲的速度就会减慢，导致扫描速度变慢；反之，如果脉冲重复频率较高，扫描速度就可以相应增加。
