探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。

A. 纵波

B. 横波

C. 既有横波又有纵波

D. 表面波

A. 水平距离不够

B. 灵敏度过低

C. 探头不合格

D. 垂直距离短

A. 深度超过1mm

B. 深度超过3mm

C. 深度超过5mm

D. 向下发展为核伤

A. 机械操作员

B. 探伤检测员

C. 防护员

D. 作业负责人

A. 发散

B. 扩散

C. 角度调整

D. 反射

A. 每日作业前

B. 每日作业完毕后

C. 每2日作业后

D. 每周作业后

A. 极短

B. 极长

C. 一般

D. 以上全是

A. 探伤类型

B. 晶片背衬的致密性

C. 频率和晶片尺寸

D. 脉冲宽度