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如图所示电路中,晶体管V的ICM=200mA,BVCEO=45V,工作在开关状态,使用后发现管子经常损坏,共主要原因是( )。

A、 管子质量差

B、 饱和导通时间过长

C、 管子由饱和转人截止时KA产生自感电动势

答案:C

解析:在开关状态下,晶体管在饱和状态时会产生较大的自感电动势,当晶体管由饱和状态转为截止状态时,这个自感电动势会导致管子损坏。因此,管子由饱和转入截止时产生的自感电动势是导致晶体管经常损坏的主要原因。所以选择C。

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如图所示电路中,晶体管V的ICM=200mA,BVCEO=45V,工作在开关状态,使用后发现管子经常损坏,共主要原因是( )。

A、 管子质量差

B、 饱和导通时间过长

C、 管子由饱和转人截止时KA产生自感电动势

答案:C

解析:在开关状态下,晶体管在饱和状态时会产生较大的自感电动势,当晶体管由饱和状态转为截止状态时,这个自感电动势会导致管子损坏。因此,管子由饱和转入截止时产生的自感电动势是导致晶体管经常损坏的主要原因。所以选择C。

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