A、 复合核比原来的靶核原子质量数增加1。
B、 复合核处于激发态,是不稳定的。
C、 复合核会通过放出γ光子而回到基态。
D、 复合核会通过放出α粒子而回到基态。
答案：ABC
解析：中子入射到靶原子核上的反应过程 题目中描述了中子入射到靶原子核上，形成一个新核（复合核）的过程。根据反应过程图，选项A表示复合核比原来的靶核原子质量数增加1，这是因为中子被俘获后，质量数增加。选项B表示复合核处于激发态且不稳定，这是因为反应释放能量，使得新核处于激发态，通常会通过放射粒子或光子来回到基态。选项C表示复合核会通过放出γ光子而回到基态，这是正确的，因为γ光子是高能量的光子，可以帮助核回到基态。选项D表示复合核会通过放出α粒子而回到基态，这是不正确的，因为α粒子是由两个质子和两个中子组成的重粒子，释放α粒子会导致核的质量数减小，而不是回到基态。因此，正确答案为ABC。
A、 复合核比原来的靶核原子质量数增加1。
B、 复合核处于激发态,是不稳定的。
C、 复合核会通过放出γ光子而回到基态。
D、 复合核会通过放出α粒子而回到基态。
答案：ABC
解析：中子入射到靶原子核上的反应过程 题目中描述了中子入射到靶原子核上，形成一个新核（复合核）的过程。根据反应过程图，选项A表示复合核比原来的靶核原子质量数增加1，这是因为中子被俘获后，质量数增加。选项B表示复合核处于激发态且不稳定，这是因为反应释放能量，使得新核处于激发态，通常会通过放射粒子或光子来回到基态。选项C表示复合核会通过放出γ光子而回到基态，这是正确的，因为γ光子是高能量的光子，可以帮助核回到基态。选项D表示复合核会通过放出α粒子而回到基态，这是不正确的，因为α粒子是由两个质子和两个中子组成的重粒子，释放α粒子会导致核的质量数减小，而不是回到基态。因此，正确答案为ABC。
A. 氡气
B. 核子秤
C. 电视
D. 安检
解析：题目解析 哪些属于电离辐射？ 电离辐射是指具有足够能量的辐射，能够使物质中的电子脱离原子或分子，从而导致电离现象。在给出的选项中，氡气（A）和核子秤（B）都属于电离辐射，因为它们能够释放足够的能量以导致电离。而电视（C）和安检（D）所示的设备通常不会释放足够的能量来产生电离现象。因此，正确的选项是ABD。
A. 机械手操作
B. 移动屏蔽
C. 铅玻璃
D. 穿工作服
E. 穿防护服
解析： 题目解析：根据题目中的图片，我们可以看到一个人在通过外照射防护措施进行操作。在图像中，可以看到机械手操作、移动屏蔽和穿工作服，这些都是外照射防护措施，用于降低辐射暴露。铅玻璃和穿防护服也是常见的辐射防护措施，但根据提供的图像，无法确定是否有这些措施，因此无法确认选项C、D、E是否适用。根据图像显示的内容，正确答案是ABC。
A. 红色为质子
B. 白色为中子
C. 绿色为电子
D. 绿色为质子
E. 白色为质子
解析：给出一个原子核模型图，要求正确表述该模型图中的颜色代表的内容。 答案:ABC 解析：根据题目描述的原子核模型图，不同颜色的部分代表不同的粒子。A选项中的红色代表质子，B选项中的白色代表中子，C选项中的绿色代表电子。质子是带正电的粒子，中子是没有电荷的粒子，电子是带负电的粒子。因此，选择ABC是对图中不同颜色所代表的粒子类型的正确表述。
A. 压力容器
B. 管道焊缝
C. 航天器材
D. 船舶
解析：工业探伤装置选择 正确答案：ABCD 解析：工业探伤是通过使用射线等方法，在不接触和损坏被检物体的情况下对其进行检测。根据给出的选项和图示，工业探伤装置通常用于压力容器、管道焊缝、航天器材和船舶的检测。这些装置可以通过向被检物体发射射线，然后测量射线经过后的变化，从而获得关于被检物体内部结构和缺陷的信息。
A. 电离辐射标志
B. 电磁辐射标志
C. 非电离辐射标志
D. 电离辐射警告标志
解析：题目解析 图中的标志是电离辐射警告标志。根据图中的图案和图标，可以推断出这是一个与电离辐射有关的警告标志，用于提醒人们附近可能存在电离辐射源，需要采取相应的防护措施。因此，正确答案是 D. 电离辐射警告标志。
A. 
B. 
C. 
D. 
解析：题目解析 这道题目要求选择属于电离辐射的图片。电离辐射是一种具有足够能量的辐射形式，可以移除物质中的电子，从而造成原子或分子的电离。从给出的选项图片中，只有图像 D 中的电离室显示了电离辐射的示意，因此答案选项为 D。
A. α衰变
B. β+衰变
C. β-衰变
D. γ衰变
解析：题目解析 在衰变纲图中，衰变方式d的箭头没有任何符号，这表示没有放射性粒子被释放出来。因此，这种衰变方式被称为γ衰变。γ衰变是通过释放高能γ射线（光子）来达到放射性核的能级重新排布。
A. 金硅面垒
B. 平面硅(PIPS)
C. 高纯锗
D. 锂玻璃
解析：题目解析 这道题目涉及半导体探测器的选择。半导体探测器利用半导体材料的特性来探测辐射。根据给出的图片，我们可以看到： A. 金硅面垒 - 这是一个金属与硅半导体的结构，用于X射线和γ射线的探测。 B. 平面硅(PIPS) - 这是一种硅探测器，用于测量高能粒子。 C. 高纯锗 - 用于探测γ射线和X射线。 D. 锂玻璃 - 这不是一个半导体探测器，通常用于热中子的探测。 因此，A、B、C都是半导体探测器，所以答案选择了ABC。
A. α射线
B. β射线
C. 中子
D. γ射线
解析： 题目中给出的图片是一个磁场中偏转的示意图，Becquerel在铀矿物中发现的射线是指放射性衰变产生的射线。α射线带有正电荷，质量较大，受磁场偏转较小，β射线带有负电荷，质量较小，受磁场偏转较大。根据图片和描述，可以看出在磁场中偏转较小的是α射线，偏转较大的是β射线，因此答案是A. α射线和B. β射线。
A. 剂量
B. 剂量率
C. 计量
D. 照射量
解析：题目解析 图片中的仪器显示了一个数值，类似于第二道题。同样地，这个数值表示的是即时的单位时间内的辐射能量，因此仍然是剂量率的测量。因此，正确答案是 B. 剂量率。
