答案:产生-tgδ的原因有:电场干扰、磁场干扰、标准电容器受潮和存在T型干扰网络。
解析:解析:《电气试验》
答案:产生-tgδ的原因有:电场干扰、磁场干扰、标准电容器受潮和存在T型干扰网络。
解析:解析:《电气试验》
解析:解析:GB50148—2010《电气装置安装工程电力变压器、油浸电抗器、互感器施工及验收规范》4.12.2
A. A.误整定
B. B.误接线
C. C.误碰
D. D.误试验
解析:解析:《国家电网公司十八项电网重大反事故措施(修订版)试题库》
解析:解析:《电气试验》
解析:解析:《电气装置安装工程盘、柜及二次回路接线施工及验收规范》GB50171-2012
解析:解析:《电气试验》
解析:解析:《电气装置安装工程盘、柜及二次回路接线施工及验收规范》GB50171-2012
A. A.接线盒上方
B. B.接线盒下方
C. C.接线盒左侧
D. D.接线盒右侧;
解析:解析:《国网骨干一次考试》
A. A.试验容量大,现场难以满足
B. B.试验电压高,现场不易满足
C. C.设备绝缘的积累效应
D. D.绝缘裕度不够
解析:解析:《电气试验》
解析:解析:GB 50666—2011《混凝土结构工程施工规范》8.1.2
解析:解析:GB50209—2010《建筑地面工程施工质量验收规范》3.0.16