171、用半晶干涉法测量小平面的平面度，这种测量方法符合( )。

A. 　0.3 微米

B. 　0.6 微米

C. 　0.9 微米

D. 　1.2 微米

A. 　平面度和平行度

B. 　垂直度和平面度

C. 　平行度和垂直度

D. 　平面度

A. 　平面度公差值小于平行度公差值

B. 　平面度公差值大于平行度公差值

C. 　平面度公差值大于或等于平行度公差值

D. 　二者相等

A. 　长度

B. 　平面度

C. 　角度

D. 　形状

A. 　最小条件

B. 　两点定一线

C. 　三点定一面

D. 　任意方法

A. 　分度装置可以分为回转分度装置和直线等分装置两大类

B. 　回转分度装置除应具备夹具应有的工件定位、夹紧机构外，还应具备转位分度机构、分度对定机构和转位锁紧机构三个基本机构

C. 　根据结构及动作原 理，分度装置可分 为机械式、光电式、电磁式等形式

D. 　径向分度比轴向分度精度低

A. 　定位

B. 　夹紧

C. 　分度

D. 　安装

A. 　导向定位基面

B. 　主要限位基面

C. 　主要定位基面

D. 　止推定位基面

A. 　其他装配尺寸

B. 　夹具与机床的联系尺寸

C. 　夹具与刀具的联系尺寸

D. 　配合尺寸

A. 　平行垫板

B. 　验棒

C. 　垫块

D. 　定位元件