缺陷的形状、大小和取向直接影响到缺陷的回波高度。

A. 折射角

B. 前沿长度

C. 分辨力

D. 声轴偏斜角

A. 标准试块

B. 对比试块

C. 实作试块

D. 参考试块

A. 5～25kHz

B. 0.2～25MHz

C. )1～200kHz

D. 15～100MHz

A. 平行于探测面

B. 垂直于探测面

C. 试件中心

D. 试件近表面

A. 缩孔

B. 气孔

C. 疏松

D. 夹砂

A. 2.5mm

B. 5mm

C. 7.5mm

D. 10mm

A. 斜70°

B. 直70°

C. 37°

D. 0°和小角度